Thailand Techshow

ชิปขยายสัญญาณรามานความละเอียดสูง (ONSPEC หรือ SERS Chip)

นักวิจัย
ดร.นพดล นันทวงศ์ ดร.พิทักษ์ เอี่ยมชัย ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ

สถานภาพสิทธิบัตร

คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1001000190 ยื่นคำขอวันที่ 5 กุมภาพันธ์ 2553
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1201001692 ยื่นคำขอวันที่ 12 เมษายน 2555
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1201002682 ยื่นคำขอวันที่ 7 มิถุนายน 2555
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1301005400 ยื่นคำขอวันที่ 26 กันยายน 2556
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1301005227 ยื่นคำขอวันที่ 19 กันยายน 2556
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1501003965 ยื่นคำขอวันที่ 10 กรกฎาคม 2558
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1501003964 ยื่นคำขอวันที่ 10 กรกฎาคม 2558
คำขอสิทธิบัตร เลขที่คำขอ 1503001194 ยื่นคำขอวันที่ 7 สิงหาคม 2558

ที่มา ข้อมูลเบื้องต้น ความสำคัญของปัญหา

ปัจจุบันเทคนิคการตรวจวัดเอกลักษณ์ของสารเคมีด้วยเทคนิคตรวจวัดสัญญาณรามาน ได้รับความนิยมเพิ่มมากขึ้นเรื่อย ๆ เนื่องจากความก้าวหน้าของเทคโนโลยีแหล่งกำเนิดแสงเลเซอร์แบบ solid-state ส่งผลให้เครื่องตรวจวัดมีราคาลดลง พร้อมทั้งยังมีขนาดที่เล็กลงและยังให้ประสิทธิภาพที่สูงขึ้นอีกด้วย ทำให้มีความนิยมนำเอาระบบตรวจวัดสัญญาณรามานมาใช้เป็นเทคนิคมาตรฐานในการตรวจระบุองค์ประกอบและเอกลักษณ์ทางเคมีทั้งภายในห้องปฏิบัติการและการพกพาสำหรับตรวจในภาคสนาม อย่างไรก็ตามการตรวจวัดสัญญาณรามานมีข้อจำกัดสำหรับการวัดสารที่มีปริมาณหรือความเข้มข้นน้อยมากๆ จึงได้เกิดการพัฒนาพื้นผิวขยายสัญญาณรามาน (surface-enhanced Raman spectroscopy: SERS) เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการขยายสัญญาณรามานดังกล่าวในการตรวจวัดและวิเคราะห์โมเลกุลของสารเคมีได้มากจนถึงระดับที่สามารถตรวจวัดสารตกค้าง (trace) ประเภทต่าง ๆ ได้อย่างแม่นยำมากขึ้น ห้องปฏิบัติการวิจัยเทคโนโลยีฟิล์มบางเชิงแสง (OTL) ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ ได้พัฒนาชิปพื้นผิวขยายสัญญาณรามาน (ONSPEC) ด้วยเทคนิคการเคลือบฟิล์มบางในระบบสุญญากาศได้สำเร็จเป็นต้นแบบภาคสนาม และ

สรุปและจุดเด่นเทคโนโลยี

ONSPEC ดำเนินการวิจัยและพัฒนาขึ้นด้วยเทคนิคการเคลือบฟิล์มขั้นสูง โดยพัฒนาฟิล์มบางโครงสร้างนาโนของโลหะเงินที่มีคุณลักษณะเฉพาะตัวสามารถขยายสัญญาณรามานได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยมีค่าอัตราการขยายสัญญาณสูงกว่าผลิตภัณฑ์ประเภทเดียวกันที่มีขายในท้องตลาดกว่า 100 เท่า ในขณะที่มีต้นทุนในการผลิตที่ต่ำกว่า พื้นผิวขยายสัญญาณประกอบด้วยชิปในบรรจุภัณฑ์พร้อมใช้งาน สามารถประยุกต์ใช้ได้กับการตรวจวัดสารตัวอย่างที่มีความเจือจางมากในระดับ trace concentration ซึ่งไม่สามารถตรวจวัดได้ด้วยเทคนิคการตรวจวัดสัญญาณรามานแบบปกติ
จุดเด่นคือ เพิ่มประสิทธิภาพการตรวจวัดเอกลักษณ์ของสารเคมีด้วยเทคนิค Raman Spectroscopy ให้สามารถวัดสัญญาณของสารอินทรีย์และอนินทรีย์ในปริมาณน้อยระดับ trace concentration

ความร่วมมือที่เสาะหา

เสาะหาผู้รับอนุญาตใช้สิทธิ

สถานภาพของผลงานวิจัย

ได้ต้นแบบระดับ pilot scale

เงื่อนไข

เทคโนโลยีต่อรองราคา

สนใจสอบถามข้อมูล

นายปกรณ์ สุพานิช

โทรศัพท์

0 2564 6900 ต่อ 2353

business@nectec.or.th

ฝ่ายพัฒนาธุรกิจและถ่ายทอดเทคโนโลยี ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ

คุณต้องการขอรับถ่ายทอดเทคโนโลยี "ชิปขยายสัญญาณรามานความละเอียดสูง (ONSPEC หรือ SERS Chip)"